在《178：技术流失》一章中，橙子写到：某国为了窃取中国的某项陶瓷工艺，以行骗的手段，索取了一些烟囱里的灰尘，通过电子显微镜分析陶瓷的烧结工艺。这个故事是橙子某一次听业内的朋友说起的，故事好像是发生在洛阳。
对于这个故事的细节，作为文科生的橙子并不了解，写书里加以了虚构，出现若干专业上的漏洞。对此，“zxz026”和“娜迪雅”两位书友予以了善意的批评，在此将两位书友的意见转录如下，供大家参考，以免大家受橙子误导。
并对两位书友表示衷心的感谢。
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“zxz026”书友指出：
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1、电镜最主要的两种是扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）。
后者要求样品制成薄片，灰尘颗粒是没法测试的。
前者主要用于观察固体形貌，可以观察粉末，但也需要一定的量，一颗50微米的颗粒还是不够的。虽然具体观察时，视野中的颗粒可以远比50微米更小，一样可以看得清，但如果直接只有1个50微米的颗粒，几乎不可能制样并在电镜下找到样品。我做的纳米W粉，粒径不过几百纳米，但还是要用一小挖耳勺那么多的粉末制样。
所以，日本人要一瓶当然够了，小林说1个颗粒就可以却不符合事实了。
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